TWS高通量測(cè)試方案
可實(shí)現(xiàn)一托四，OTA測(cè)試，分時(shí)測(cè)試四個(gè)被測(cè)件，不會(huì)互相干擾，可以極大節(jié)省測(cè)試時(shí)間成本和測(cè)試成本。
痛點(diǎn)問(wèn)題
對(duì)于生產(chǎn)商而言，傳統(tǒng)的測(cè)試方案大多是有乒乓+多個(gè)屏蔽箱的方式測(cè)試，增加了測(cè)試成本和場(chǎng)地面積，一旦產(chǎn)品數(shù)量眾多每次測(cè)試還需要人工進(jìn)行輪換被測(cè)件依次進(jìn)行測(cè)試，無(wú)疑將會(huì)耗費(fèi)大量時(shí)間成本。
推薦方案
TWS高通量測(cè)試方案——領(lǐng)先行業(yè)技術(shù)實(shí)現(xiàn)1托4：儀表可以支持1托多拼板測(cè)試（至多可支持對(duì)四個(gè)被測(cè)件分時(shí)測(cè)試），且能夠保障四個(gè)被測(cè)件與單個(gè)被測(cè)件測(cè)量數(shù)據(jù)基本相差無(wú)誤，減少人工輪換被測(cè)件的次數(shù)，節(jié)約時(shí)間成本，適用于大規(guī)模量產(chǎn)測(cè)試。
測(cè)試方法
（1）標(biāo)記4個(gè)被測(cè)件為DUT1，DUT2，DUT3，DUT4，使用網(wǎng)線連接上位機(jī)，射頻線分別連接儀表、屏蔽箱。
（2）將4個(gè)被測(cè)件按對(duì)應(yīng)位置放入屏蔽箱中，DUT1位置不變，在PC端調(diào)試進(jìn)入測(cè)試模式，啟動(dòng)測(cè)試依次檢測(cè)該4個(gè)被測(cè)件的輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限偏置和頻漂等指標(biāo)數(shù)據(jù)。
（3）匯總數(shù)據(jù)，對(duì)比并分析。
測(cè)試時(shí)間 | ||||
被測(cè)件 | DUT1 | DUT2 | DUT3 | DUT4 |
測(cè)試項(xiàng) | 輸出功率、靈敏度、調(diào)制特性、初始載波頻率容限、頻偏和頻漂 | |||
測(cè)試信道 | Channel 0，39，78 | |||
測(cè)試單個(gè)DUT時(shí)間 | 14s | 14s | 14s | 14s |
測(cè)試總時(shí)間 | 52 s | |||
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